对于它的价值，我知道这不是编程错误，因为如果我下载代码然后按下重置按钮执行代码即可。我在TI板上使用了相同的调试器，它还能够对闪存进行编程并执行闪存例程。我敢肯定我不会擦除存储代码的Flash部分，所以不是那样。
如果我在main.c中跳过了这一行， >
if (HAL_FLASHEx_Erase(&EraseInitStruct, &PageError) != HAL_OK)
，它将删除调试会话。如果我改为进入同一行，然后遍历Flash擦除例程中的每个调用，则它将起作用并最终退出该例程，并且我可以调试该例程。其余代码。
#1 楼
我的猜测是，这在某种程度上与电源有关。为了弄清楚这种情况，在硬件重置后调试可以正常工作，但是当目标擦除闪存块时，调试连接将断开？
调试并不关心代码是否正确运行-您可以处于锁定状态，并且停止调试应该仍然有效。在CPU端唯一无法调试的是死锁的AHB访问。这意味着问题出在STM32F7与板载USB-SWD接口芯片（我也认为是STM32）之间的SWD接口。该设备具有一些板载电源导轨开关，这使我第一次使用该板时感到困惑。
值得注意的是，闪存擦除会增加设备的电流消耗-您的外部PSU是否达到
编辑：根据您的反馈，单步执行有问题的代码会导致调试器崩溃，而单步执行则不会，我认为您的问题与这个问题。
通过使用断点（和轮询暂停状态）来实现跨步，而硬件中支持单步。这仍然不能解释为什么调试器似乎会感到困惑，但是确实允许调试器在Flash控制器处于活动状态时尝试访问代码（从Flash）。根据这些观察结果，建议您在擦除后设置一个断点，并尝试避免触发这种情况。
评论
正确，它工作正常，但是当我擦除一个块时，与调试器的USB连接断开。我使用的是无电源的USB集线器，因此这似乎合乎逻辑。但是，直接连接到计算机并使用其他集线器可获得相同的结果。
– netskink
17年3月30日在11:51
如果在执行闪存访问时正在运行代码，则将使AHB死锁一段时间。我想想在这种情况下踩踏可能会很混乱。 stackoverflow.com/questions/3445598还有更多。
– Sean Houlihane
17 Mar 30 '17 at 11:56
评论
不确定，但也许CMSIS-DAP的USB端已重启电源。该板的外部调试组件的电源分配相当复杂。无法访问目标，可能意味着与DAP的连接（通过串行线）已断开。我们是在谈论将板载ST-LINK / V2用作调试器吗？
如果您可以共享代码映像，则其他人可能可以验证（并排除硬件问题）。我自己只有M7板...
Bence Kaulics，其调试器内置于stm32f072B-disco板上。它是ST-Link调试器，而不是ST-LINK / V2的Keil ULINK2调试器。我有一个与Keil USB连接的调试器，但它通过带状电缆连接到了开发板上。我在板上使用的是微型USB ST-Link连接器，而不是带状电缆连接器。该开发板从mini-usb连接器而不是单独的电源获取电源。
关于代码示例。该示例由意法半导体的发现仓库提供。 ST仓库中的项目路径为Projects / STM32F072B-Discovery / Examples / FLASH / FLASH_EraseProgram。我在该目录中使用MDK-ARM项目。它在第108行失败，该行执行HAL_FLASHEx_Erase（）