#1 楼
如果正确设计了下采样通道，它将作为下采样的一部分有效地执行低通滤波。不需要单独的低通滤镜操作。基本上，当您进行下采样时，您将对源（高分辨率）图像像素执行滤镜，而仅在位置进行评估目标像素（低分辨率）。该过滤器的覆盖区需要大约为目标像素之间的间距，以避免通过跳过源像素之间的信息而丢失信息。但这意味着滤镜足迹将是几个源像素宽，因此它将有效地使源低通。
例如，让我们假设您在每个轴上将图像降采样10倍。使用框滤镜（例如），您可以将每个目标像素设置为10x10框源像素的平均值。这会抹掉小于10px的所有特征，因此它实际上是一个低通滤波器。
您提到了三次三次插值；我们必须在此处区分滤波和插值。插值适用于上采样，而不适用于下采样。双三次插值的工作原理是将双三次样条补丁拟合到4x4像素邻域，然后在插值点评估补丁。虽然它可以很好地工作，以较小的比例（最多2倍左右）对图像进行下采样，但是如果您做得更多，它将会失败。例如，如果像前面的示例中那样以10倍下采样，您会看到bicubic将错过大多数源像素，并且结果可能会非常混叠。
另一方面，双三次过滤只是标准过滤，使用的是具有双三次函数的内核（与盒子，三角形，高斯，Lanczos等内核相反）。 Mitchell-Netravali内核是这种类型的经典示例。如果用于下采样，则应按照前面讨论的大小为目标像素间距适当地设置内核大小，并且您将对覆盖区中的所有像素求和，而不仅仅是4x4或其他固定大小的邻域。
评论
我对您的前提有些困惑...低通滤波器在质量上与下采样有何不同？我的意思是，我知道算法是不同的，但所有算法都从相邻像素收集样本并抑制高频。最大的不同是结果图像的分辨率，否则这两个操作是同构的。似乎两者都应用是多余的。好吧，这就是令我困惑的地方。我知道您不能在不获得锯齿的情况下对图像进行下采样。在放大图像时对像素进行三次三次插值确实效果很好，而且看起来不错。当使较小的SEEMS图像正常工作时，请执行相同的操作，但是我不确定结果是否可能产生大量的锯齿。我想知道从技术上来说，您是否需要在进行三次三次采样之前对图像进行某种低通滤波，或者实际上两次三次采样是否足够好？我可以看到它本身就是一种低通滤波器。
我在另一个问题中提到的Mitchell-Netravali论文专门解决了这个想法-他对三次进行了广义化，然后找到了别名最少的参数。这并不意味着它们根本就没有别名，但是也许它将指导您使用哪个立方来最小化别名。